埃科光电新获得发明专利授权：“图像传感器拼缝校正方法、系统、电子装置及存储介质”

证券之星消息，根据企查查数据显示埃科光电（688610）新获得一项发明专利授权，专利名为“图像传感器拼缝校正方法、系统、电子装置及存储介质”，专利申请号为CN202311133832.6，授权日为2023年11月14日。

专利摘要：本发明提出一种图像传感器拼缝校正方法、系统、电子装置及存储介质。该方法包括：在均匀光源下，采集若干不同亮度的原始图像，记录原始图像的像素值；基于所述像素值，计算原始图像的校正系数；分割所述原始图像，使得有效子区域内含有拼缝线及拼缝线两侧的传感器图像；基于任一有效子区域图像的像素值，计算该有效子区域对应的区域校正系数；构建融合系数函数，基于校正系数和区域校正系数，计算融合校正系数；基于融合校正系数，校正所述像素值，输出校正图像。本发明提出一种分段融合校正方法，在物理空间不同区域采用不同的校正系数，降低成像拼缝效应，使得该方法根据环境变化重新校正系数，具有自适应能力。

今年以来埃科光电新获得专利授权40个，较去年同期增加了110.53%。结合公司2023年中报财务数据，今年上半年公司在研发方面投入了1349.39万元，同比增8.2%。

数据来源：企查查

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