长川科技获得实用新型专利授权：“芯片老化测试设备”

证券之星消息，根据天眼查APP数据显示长川科技（300604）新获得一项实用新型专利授权，专利名为“芯片老化测试设备”，专利申请号为CN202422621869.X，授权日为2025年10月10日。

专利摘要：本实用新型属于芯片测试技术领域，公开了芯片老化测试设备，包括中控机以及为中控机供电的电源，芯片老化测试设备还包括基座和测试部件，测试部件可拆卸连接于基座，测试部件至少包括一个测试模块，基座内设有容置腔，容置腔用于容置电源和中控机，测试模块包括测试框架、老化单板和测试单板，老化单板和测试单板可拆卸地安装于测试框架，老化单板和测试单板之间电连接，且测试单板电连接于中控机。本实用新型的芯片老化测试设备能够在减少开关机操作的前提下对故障老化单板进行替换或者满足单个测试芯片的定制测试需求，降低测试成本、避免资源浪费。

今年以来长川科技新获得专利授权177个，较去年同期增加了11.32%。结合公司2025年中报财务数据，今年上半年公司在研发方面投入了4.73亿元，同比增18.2%。

通过天眼查大数据分析，杭州长川科技股份有限公司共对外投资了16家企业，参与招投标项目115次；财产线索方面有商标信息25条，专利信息1136条，著作权信息75条；此外企业还拥有行政许可79个。

数据来源：天眼查APP

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