晶合集成获得发明专利授权：“一种静态随机存取存储器的失效分析方法”

证券之星消息，根据天眼查APP数据显示晶合集成（688249）新获得一项发明专利授权，专利名为“一种静态随机存取存储器的失效分析方法”，专利申请号为CN202411178748.0，授权日为2024年12月24日。

专利摘要：本发明公开了一种静态随机存取存储器的失效分析方法，属于半导体技术领域，所述分析方法至少包括：提供多个静态随机存取存储器；进行晶圆测试，筛选出单位软失效的所述静态随机存取存储器；设定起始电压为测试电压对单位软失效的所述静态随机存取存储器进行读写0测试和/或读写1测试，以预设梯度增加所述测试电压对单位软失效的所述静态随机存取存储器进行读写0测试和/或读写1测试，直至所述测试电压达到终止电压时停止测试，并输出测试结果；依据所述测试结果，判断是否为高阻失效；对高阻失效的静态随机存取存储器进行失效分析。通过本发明提供的一种静态随机存取存储器的失效分析方法，能够针对高阻失效进行分析，快速提升产品良率。

今年以来晶合集成新获得专利授权273个，较去年同期增加了13.28%。结合公司2024年中报财务数据，今年上半年公司在研发方面投入了6.14亿元，同比增22.27%。

数据来源：天眼查APP

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