星图测控获得发明专利授权：“一种基于天基光学测量数据处理与识别方法”

证券之星消息，根据天眼查APP数据显示星图测控（920116）新获得一项发明专利授权，专利名为“一种基于天基光学测量数据处理与识别方法”，专利申请号为CN202411287804.4，授权日为2024年12月20日。

专利摘要：本发明公开了一种基于天基光学测量数据处理与识别方法，包括以下步骤：S1，读取天基光学数据；S2，判断数据是否合理，不合理进行剔除，合理进入步骤S3；S3，对合理的数据进行数据转换；S4，进行初始轨道的确定；S5，若初始轨道确定成功，利用定轨结果与目标集中的tle进行比对识别，根据半长轴、偏心率、升交点赤经判定阈值条件，得到符合阈值条件的疑似目标；若初始轨道确定失败，将目标集中的tle进行外推反演，用指向数据与实测数据进行比对，给出赤经赤纬判定阈值条件，挑选符合阈值条件的疑似目标；S6，通过识别规则对疑似目标进一步剔除，找出最接近的目标，给出置信度评估，输出识别结果。本发明解决了天基观测数据量大、识别困难的问题。

今年以来星图测控新获得专利授权1个。结合公司2024年中报财务数据，今年上半年公司在研发方面投入了1279.49万元，同比增67.02%。

数据来源：天眼查APP

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