广立微获得发明专利授权：“失效点分析方法、装置、计算机设备和存储介质”_股票频道

证券之星消息，根据天眼查APP数据显示广立微（301095）新获得一项发明专利授权，专利名为“失效点分析方法、装置、计算机设备和存储介质”，专利申请号为CN202410552392.6，授权日为2024年8月20日。

专利摘要：本申请涉及一种失效点分析方法、装置、计算机设备和存储介质，其中，失效点分析方法包括：对测试结果的数据点进行逐行遍历，确定各数据点的失效类型编码，并构建关系数组；该关系数组表示：各失效类型编码之间的连接关系；对各数据点再次进行逐行遍历，根据关系数组对各数据点的失效类型编码进行更新；根据更新后的失效类型编码，对各数据点的失效类型进行图形显示。采用本申请的方法，提高了测试结果数据点的失效类型编码的效率。

今年以来广立微新获得专利授权31个，较去年同期增加了63.16%。结合公司2023年年报财务数据，2023年公司在研发方面投入了2.07亿元，同比增67.7%。

数据来源：天眼查APP

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