普冉股份获得发明专利授权：“芯片测试设备及其芯片测试过程叠料或卡料检查方法”

证券之星消息，根据企查查数据显示普冉股份（688766）新获得一项发明专利授权，专利名为“芯片测试设备及其芯片测试过程叠料或卡料检查方法”，专利申请号为CN202110578262.6，授权日为2024年5月24日。

专利摘要：本发明公开了一种芯片测试设备，在FT测试模式下，如果芯片标识读取模块在开短路测试模块对放置于测试槽的待检芯片完成FT测试的开短路测试时读取的该待检芯片的FT标志寄存器中的标识为测试通过识别码，其控制器输出叠料或卡料现象发生信息；当对放置于测试槽的待检芯片的FT测试的全部测试项完成时，如果该待检芯片的FT测试的各测试项均通过，其控制器控制标识写入模块向该芯片的FT标志寄存器写入测试通过识别码，如果该待检芯片的FT测试存在失败测试项，其控制器输出测试未通过信息。本发明还公开了该芯片测试设备的芯片测试过程叠料或卡料检查方法。本发明，便于及时发现芯片叠料或卡料，并方便后续追踪检查芯片是否是FT测试通过的芯片。

今年以来普冉股份新获得专利授权5个，较去年同期增加了66.67%。结合公司2023年年报财务数据，2023年公司在研发方面投入了1.91亿元，同比增28.74%。

数据来源：企查查

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