广和通获得发明专利授权：“射频通路测试电路、方法、装置及介质”

证券之星消息，根据企查查数据显示广和通（300638）新获得一项发明专利授权，专利名为“射频通路测试电路、方法、装置及介质”，专利申请号为CN202111545469.X，授权日为2024年5月10日。

专利摘要：本申请公开了一种射频通路测试电路、方法、装置及计算机可读存储介质，射频通路测试电路，包括控制器、第一单刀多掷开关和测试设备接口，其中：控制器与第一单刀多掷开关的控制端相连，用于控制第一单刀多掷开关的第一共用端与任意一个第一非共用端连通；第一共用端与测试设备接口相连，测试设备接口用于与测试设备相连；各个第一非共用端用于分别与各个待测的射频通路相连；控制器生成不同的控制信号发送至第一单刀多掷开关的控制端，使得第一共用端能够与任意一个第一非共用端连通，进而使得所有与第一单刀多掷开关相连的射频通路都能够得到测试，仅有一个测试设备接口，在测试时无需插拔数量较多的射频线，提高了测试效率。

今年以来广和通新获得专利授权36个，较去年同期增加了9.09%。结合公司2023年年报财务数据，2023年公司在研发方面投入了7.08亿元，同比增25.15%。

数据来源：企查查

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