晶合集成获得发明专利授权：“用于检测存储器故障的测试方法和测试电路”

证券之星消息，根据企查查数据显示晶合集成（688249）新获得一项发明专利授权，专利名为“用于检测存储器故障的测试方法和测试电路”，专利申请号为CN202410072219.6，授权日为2024年5月3日。

专利摘要：本申请公开用于检测存储器故障的测试方法和测试电路。测试方法包括对存储器的待测试存储空间执行如下多次读写操作：按地址降序或地址升序进行写0操作，按地址降序进行读0操作、写1操作，按地址升序进行多次读1操作、写0操作、读0操作、写1操作，按地址升序进行读1操作、写0操作、读0操作，按地址升序进行多次读0操作、写1操作、多次读1操作、写0操作，按地址升序进行读0操作；将多次读写操作中读出的数据与期望数据进行比较，以确定待测试存储空间内是否有地址存在故障。该测试方法实现了故障检测覆盖率的提高。

今年以来晶合集成新获得专利授权114个，较去年同期增加了137.5%。结合公司2023年年报财务数据，2023年公司在研发方面投入了10.58亿元，同比增23.39%。

数据来源：企查查

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