广立微获得发明专利授权：“一种晶圆测试参数的相关性判断方法及系统”

证券之星消息，根据天眼查APP数据显示广立微（301095）新获得一项发明专利授权，专利名为“一种晶圆测试参数的相关性判断方法及系统”，专利申请号为CN202111109950.4，授权日为2025年2月18日。

专利摘要：本发明提供一种晶圆测试参数的相关性判断方法，包括：数据获取，得到N个测试参数组；对N个测试参数组分别进行数据预处理，得到N个第一参数组；对N个第一参数组降维，得到N个第二参数组；确定N个第二参数组要分组的个数k，得到k个起始质心；自动分组并进行相关性判断。采用本方法能自动识别不同测试方法下的晶圆测试参数的相关性，能快速寻找到相关性高的晶圆测试参数组，并快速进行数据分析，节约时间和成本；有利于进一步提高良率分析的准确率。本发明还提供一种晶圆测试参数的相关性判断系统，因采用本发明的一种晶圆测试的相关性判断方法而具有相应优势。

今年以来广立微新获得专利授权13个，较去年同期增加了550%。结合公司2024年中报财务数据，2024上半年公司在研发方面投入了1.32亿元，同比增41.77%。

数据来源：天眼查APP

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