广立微获得发明专利授权：“可寻址测试芯片用开关电路及高密度可寻址测试芯片”

证券之星消息，根据天眼查APP数据显示广立微（301095）新获得一项发明专利授权，专利名为“可寻址测试芯片用开关电路及高密度可寻址测试芯片”，专利申请号为CN202111128760.7，授权日为2025年2月14日。

专利摘要：本发明提供的可寻址测试芯片用开关电路，包括若干待测器件和若干开关，能通过控制所述开关的通断状态以选中指定的待测器件连通测试通路；相邻两个所述待测器件共享位于其中一个待测器件同一端的激励开关和感应开关；所述待测器件、其与相邻待测器件所共享的所述感应开关之间连接有中间开关。本发明的开关电路能够在测量选中的器件时，感应端仅有连接选中的待测器件的一端导通而另一端关断，解决了因共享开关而引入的绕线电阻误差，优化了共享电路在小电阻测量应用中精确度。本发明还提供的高密度可寻址测试芯片因具有本发明的可寻址测试芯片用开关电路而具有相应优势。

今年以来广立微新获得专利授权10个，较去年同期增加了400%。结合公司2024年中报财务数据，2024上半年公司在研发方面投入了1.32亿元，同比增41.77%。

数据来源：天眼查APP

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