中科曙光获得发明专利授权：“一种测试基板、LLCR测量方法及测试基板测试方法”

证券之星消息，根据企查查数据显示中科曙光（603019）新获得一项发明专利授权，专利名为“一种测试基板、LLCR测量方法及测试基板测试方法”，专利申请号为CN202110841032.4，授权日为2024年5月28日。

专利摘要：本申请涉及一种测试基板、LLCR测量方法及测试基板测试方法，属于计算机技术领域。该测试基板包括：基板、内存插槽以及测试端子；内存插槽，设置于所述基板上，用于连接内存；测试端子，设置于所述基板上，所述测试端子的数量与所述内存插槽的接触点的总数量相同，一个接触点对应连接一个所述测试端子，从而利用所述测试端子来替代内存金手指进行LLCR测试。本申请通过该测试基板，使得在对内存金手指进行LLCR测试时，通过将待测内存条插接于该测试基板上的内存插槽中，通过测量测试基板上每一对测试端子的接触阻抗值，达到对内存金手指的间接测量的目的，这样避免对内存金手指表面镀层造成损伤。

今年以来中科曙光新获得专利授权24个，较去年同期减少了47.83%。结合公司2023年年报财务数据，2023年公司在研发方面投入了13.16亿元，同比增19.07%。

数据来源：企查查

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