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中科曙光获得发明专利授权:“一种测试基板、LLCR测量方法及测试基板测试方法”

来源:证券之星企业动态 2024-05-29 02:25:33
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证券之星消息,根据企查查数据显示中科曙光(603019)新获得一项发明专利授权,专利名为“一种测试基板、LLCR测量方法及测试基板测试方法”,专利申请号为CN202110841032.4,授权日为2024年5月28日。

专利摘要:本申请涉及一种测试基板、LLCR测量方法及测试基板测试方法,属于计算机技术领域。该测试基板包括:基板、内存插槽以及测试端子;内存插槽,设置于所述基板上,用于连接内存;测试端子,设置于所述基板上,所述测试端子的数量与所述内存插槽的接触点的总数量相同,一个接触点对应连接一个所述测试端子,从而利用所述测试端子来替代内存金手指进行LLCR测试。本申请通过该测试基板,使得在对内存金手指进行LLCR测试时,通过将待测内存条插接于该测试基板上的内存插槽中,通过测量测试基板上每一对测试端子的接触阻抗值,达到对内存金手指的间接测量的目的,这样避免对内存金手指表面镀层造成损伤。

今年以来中科曙光新获得专利授权24个,较去年同期减少了47.83%。结合公司2023年年报财务数据,2023年公司在研发方面投入了13.16亿元,同比增19.07%。

数据来源:企查查

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