广立微获得发明专利授权：“一种E-fuse熔断特性的测试电路及测试方法”

证券之星消息，根据天眼查APP数据显示广立微（301095）新获得一项发明专利授权，专利名为“一种E-fuse熔断特性的测试电路及测试方法”，专利申请号为CN201911340129.6，授权日为2025年2月14日。

专利摘要：本发明提供一种E?fuse熔断特性的测试电路，包括开关控制器、电压源、至少一待测E?fuse及开关模块；所述开关控制模块的输出端连接到开关模块；所述待测E?fuse的一端均连接到一个固定电势端，另一端均连接到所述电压源，且每个待测E?fuse连接有一个开关模块，用于通过该开关模块控制该待测E?fuse所在测试电路的通断；该测试电路大大增加了可测DUT的数量，节省了测试芯片面积，同时采用了熔断电压、一个非熔断电压进行测试，可以判断E?fuse熔断是否是由于测试引起的；当采用脉冲电压测试信号时，既避免了传统可寻址测试结构测试E?fuse造成电流累积的隐患，也可进一步减小外围测试电路的面积占用。

今年以来广立微新获得专利授权10个，较去年同期增加了400%。结合公司2024年中报财务数据，2024上半年公司在研发方面投入了1.32亿元，同比增41.77%。

数据来源：天眼查APP

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