广立微获得发明专利授权：“一种可寻址并行测试电路、方法、芯片和系统”

证券之星消息，根据企查查数据显示广立微（301095）新获得一项发明专利授权，专利名为“一种可寻址并行测试电路、方法、芯片和系统”，专利申请号为CN202410105671.8，授权日为2024年5月14日。

专利摘要：本申请涉及一种可寻址并行测试电路、方法、芯片和系统，其中，该电路通过地址电路接收地址焊盘和模式焊盘发送的信号后，生成地址信号和模式信号，并根据地址信号，控制开关电路，进而选中目标待测结构块中进行连通的目标待测结构，进而进行并行测试。根据地址信号和模式信号，控制开关电路，进而确定目标待测结构中进行连通测试的待测对象；通过地址电路生成的地址信号和模式信号，进而确定需要进行连通测试的待测对象，同时同一地址信号对应一个并行组，进而通过测试焊盘对同一并行组中的待测对象同时进行各自不同的测试，进而有利于在提高单位面积内可放结构数量的同时减少每个结构的测试时间。

今年以来广立微新获得专利授权21个，较去年同期增加了61.54%。结合公司2023年年报财务数据，2023年公司在研发方面投入了2.07亿元，同比增67.7%。

数据来源：企查查

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