广立微获得发明专利授权：“一种用于高密度测试芯片地址稳定性的检测方法及装置”

证券之星消息，根据企查查数据显示广立微（301095）新获得一项发明专利授权，专利名为“一种用于高密度测试芯片地址稳定性的检测方法及装置”，专利申请号为CN202410044599.2，授权日为2024年4月26日。

专利摘要：本发明提供了一种用于高密度测试芯片地址稳定性的检测方法及装置，包括：获取所述测试芯片的第一地址信号；预定义纠错编码规则；根据所述纠错编码规则，基于所述第一地址信号进行编码，得到纠错码；基于所述第一地址信号和所述纠错码，得到第二地址信号；选取所述第二地址信号中的至少一个信号位，得到第三地址信号；将所述第三地址信号连接焊盘监测，得到第一序列信号；根据所述第一序列信号确定第一地址信号的稳定性。本发明利用有限的与地址相关的信息监测内部地址正确性与稳定性，通过这种方式能够更高效实现检测，同时节省了焊盘资源，提高了待测器件的密度。

今年以来广立微新获得专利授权12个，较去年同期增加了9.09%。结合公司2023年年报财务数据，2023年公司在研发方面投入了2.07亿元，同比增67.7%。

数据来源：企查查

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