XD华岭股获得发明专利授权：“集成电路的检测方法”

证券之星消息，根据企查查数据显示XD华岭股（430139）新获得一项发明专利授权，专利名为“集成电路的检测方法”，专利申请号为CN202111227774.4，授权日为2024年4月26日。

专利摘要：一种集成电路的检测方法，所述检测方法包括：对晶片上的多个芯片区域的多个凸起测试电极执行外观检测，并基于测试结果形成第一标识图；基于探针板卡与所述第一标识图确定所述探针板卡的测试走步图，其中所述探针板卡执行一次探针探测时对应至少两个芯片区域；基于所述第一标识图、所述测试走步图形成第二标识图；以及基于所述测试走步图以及所述第二标识图，控制探针板卡对所述晶片上的多个芯片区域的多个凸起测试电极执行探针测试，其中，响应于第二标识图存在不良标识图案，控制所述探针板卡对所述不良标识图案对应的芯片区域的凸起测试电极不执行探针测试。

今年以来XD华岭股新获得专利授权3个，较去年同期减少了66.67%。结合公司2023年年报财务数据，2023年公司在研发方面投入了6705.12万元，同比增68.21%。

数据来源：企查查

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