广立微获得实用新型专利授权：“一种利用环形振荡器测量电容的电学检测结构”

证券之星消息，根据企查查数据显示广立微（301095）新获得一项实用新型专利授权，专利名为“一种利用环形振荡器测量电容的电学检测结构”，专利申请号为CN202321735198.9，授权日为2023年12月26日。

专利摘要：本实用新型涉及一种利用环形振荡器测量电容的电学检测结构，包括多级反相器和位于前后级反相器之间的负载C结构；所述负载C结构包括金属叉指结构，所述金属叉指结构包括若干根金属finger；所述负载C结构与所述前后级反相器电连接，用于测量负载电容。通过在相同面积的前段结构上设置不同负载C结构，虽然不同的负载C结构中的金属finger的数量不同，但其前段结构都一样，以控制负载不同的情况下前段结构的影响，提高检测结果的准确性。

今年以来广立微新获得专利授权27个，较去年同期增加了12.5%。结合公司2023年中报财务数据，今年上半年公司在研发方面投入了9313.46万元，同比增98.72%。

数据来源：企查查

以上内容由证券之星根据公开信息整理，由算法生成，与本站立场无关。证券之星力求但不保证该信息（包括但不限于文字、视频、音频、数据及图表）全部或者部分内容的的准确性、完整性、有效性、及时性等，如存在问题请联系我们。本文为数据整理，不对您构成任何投资建议，投资有风险，请谨慎决策。