证券之星消息,根据企查查数据显示晶合集成(688249)新获得一项发明专利授权,专利名为“一种半导体结构及其制备方法”,专利申请号为CN202311039103.4,授权日为2023年11月28日。
专利摘要:本发明提供一种半导体结构及其制备方法,包括:衬底,所述衬底上形成多个有源区器件,相邻两个所述有源区器件之间的所述衬底的部分结构形成隔离器件;以及栅极结构,形成于所述隔离器件上,所述栅极结构包括偏移间隔层与栅极层,所述偏移间隔层形成于所述隔离器件上,所述偏移间隔层上形成有栅极槽,所述栅极层形成于所述栅极槽中。通过本发明公开的一种半导体结构及其制备方法,能够对栅极层进行防护。
今年以来晶合集成新获得专利授权229个,较去年同期增加了90.83%。结合公司2023年中报财务数据,今年上半年公司在研发方面投入了5.02亿元,同比增27.46%。
数据来源:企查查
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